| ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。 | ||||||||||||||
| ◆ 特點(diǎn)： | ||||||||||||||
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| ◆ 技術(shù)指標(biāo)： | ||||||||||||||
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